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Catégorie de banc: Caractérisation et structuration de surface

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Microscopie en champ proche

Microscopie en champ proche
Microscope à Force Atomique (AFM) La microscopie à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) est une technique de microscopie de qui consiste à balayer la surface avec une pointe extrêmement fine (rayon de courbure d’une dizaine de nanomètres) tout en sondant les forces d’interactions atomiques entre la pointe et la surface. Un système d’asservissement…
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Microscopie électronique

Microscopie électronique
Analyses structurale et physico-chimique multi-échelle de la matière Le parc instrumental est constitué de deux appareils offrant des caractéristiques techniques complémentaires permettant de sonder la matière de l’échelle micrométrique à l’échelle atomique. Les différents modes d’imagerie (STEM-HAADF, HREM) donnent accès tant à la morphologie qu’à la microstructure des échantillons analysés : l’imagerie de réseaux cristallins…
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NANOPLAST

NANOPLAST
Le dispositif Nanoplast se compose de trois enceintes à ultra haut vide (UHV). La première enceinte (à droite sur la photo ci-dessous) est dédiée à la préparation des échantillons et au contrôle par spectroscopie d’électrons Auger (AES) et diffraction d’électrons lents (LEED), la seconde (au milieu) contient le dispositif de sollicitation mécanique in situ et…
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FIB

FIB
Le banc de recherche NanoLab est un double microscope haute résolution (Dual-Beam) FIB + MEB-FEG. Il est composé d’une colonne électronique à canon FEG et d’une colonne ionique équipée d’une source Ga+. De nombreux détecteurs permettent d’imager les surfaces (imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée, imagerie ionique) et d’en caractériser la chimie (EDS) et la cristallographie…
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