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NANOPLAST

Caractérisation et structuration de surface
NANOPLAST

Données techniques du banc :

  • Vide de base: < 8. 10-11 mbar pour la chambre de préparation et < 5. 10-11 mbar pour la chambre d’analyse et du microscope,
  • Décapage de la surface par faisceau d’ions argon et recuit jusqu’à 1300 K,
  • Sollicitation mécanique in situ en compression jusqu’à une contrainte σ = 500 MPa et une déformation totale ε = 15% pour des échantillons standards de 6 mm de longueur et 2×2 mm2 de section,
  • Visualisation en temps réel de la courbe contrainte/déformation, au cours de l’essai mécanique,
  • Vitesse de déformation allant de 10-6 à 10-4 s-1,
  • Résolution atomique y compris pour des échantillons sous contrainte,
  • Suivi en temps réel de l’évolution de la même zone de la surface à contrainte/déformation croissante, par microscopie à force atomique (AFM) ou par microscopie à effet tunnel (STM),
  • Essai mécanique in situ sur une gamme de température allant de 90K à 650K.
  • Essai mécanique ex situ jusqu’à une température de 1500K.

Contact(s) du banc :

Il n'y a pas de contact pour ce banc

Présentation du banc :

Le dispositif Nanoplast se compose de trois enceintes à ultra haut vide (UHV). La première enceinte (à droite sur la photo ci-dessous) est dédiée à la préparation des échantillons et au contrôle par spectroscopie d’électrons Auger (AES) et diffraction d’électrons lents (LEED), la seconde (au milieu) contient le dispositif de sollicitation mécanique in situ et le microscope en champ proche AFM contact-NC/STM. Enfin, une troisième chambre (à gauche) permet de réaliser des essais mécaniques UHV ex situ (i.e. pas de possibilités d’imagerie à chargement mécanique croissant).