Microscopie en champ proche

  • ChampProche2

    Images AFM d’une empreinte de nanoindentation dans un superalliage à base nickel. On distingue la structure γ/γ’ ainsi que les lignes de glissement en bord d’empreinte.

  • champProche1

    Principe de l’AFM en mode dynamique

Données techniques du banc :

  •  Modes : contact, tapping, friction, MFM
  • Plage accessible : 5x5 nm2 à 90x90 µm2
  • Débattement en Z : 4,7 µm

Présentation du banc :

Microscope à Force Atomique (AFM)

La microscopie à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) est une technique de microscopie de qui consiste à balayer la surface avec une pointe extrêmement fine (rayon de courbure d’une dizaine de nanomètres) tout en sondant les forces d’interactions atomiques entre la pointe et la surface. Un système d’asservissement permet de déplacer la pointe verticalement tout au long du balayage afin de maintenir la force d’interaction à une valeur constante. On enregistre ainsi une image de la surface en trois dimensions. L’un des intérêts majeurs de l’AFM est sa capacité à fournir une information quantitative non seulement dans le plan, mais également dans la direction perpendiculaire au plan balayé. On peut ainsi mesurer des hauteurs avec une précision meilleure que 0,1nm. Le DPMM dispose de deux microscopes à Force atomique : le Dimension 3100 (Bruker) et le Multimode (Bruker). Ces deux microscopes fonctionnent en mode contact et en mode dynamique et permette d’explorer des zones allant de 5x5 nm2 à 90x90 µm2. Par ailleurs, le Dimension 3100 dispose d’une table motoriées X-Y et est couplé à un microscope optique permettant de choisir précisément la zone à étudier.