Présentation du banc :
Analyses structurale et physico-chimique multi-échelle de la matière
Le parc instrumental est constitué de deux appareils offrant des caractéristiques techniques complémentaires permettant de sonder la matière de l’échelle micrométrique à l’échelle atomique. Les différents modes d’imagerie (STEM-HAADF,
HREM) donnent accès tant à la morphologie qu’à la
microstructure des échantillons analysés : l’imagerie de réseaux
cristallins permet de sonder les défauts et interfaces à l’échelle atomique et de mesurer quantitativement les déformations du réseau cristallin. La diffraction des électrons est mise en œuvre pour en déterminer la cristallographie des matériaux étudiés. Enfin, le couplage des techniques spectroscopiques (EDXS, EELS, EFTEM) résolues spatialement à l’échelle sub-nanométrique permet de détecter et cartographier tous les éléments chimiques (H, U) et couplée à des calcul ab initio de sonder les propriétés électroniques des matériaux (liaison chimique, degré de valence).
Modes opératoires :
- Contrastes de diffraction (TEM) - Cartographies élémentaires EF-TEM/STEM-EELS/EDXS champ-clair/champ-sombre, faisceau faible - Diffraction résolue spatialement (STEM-Diffraction)
- Imagerie à Haute Résolution (HRTEM) - Tomographie de l’espace réciproque
- Diffraction électronique : SAED, (LA)CBED - Observations in-situ (LN2 ; 900°C) et operando
- Imagerie en mode STEM (BF/DF/HAADF) (électrochimie)
- Spectroscopies EELS et EDXS résolues spatialement (STEM-EELS/EDXS)